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玉崎代理OTSUKA ELSZneo電位粒徑分子量測量系統

更新時間:2026-08-19點擊次數:132

型號:ELSZneo(衍生簡化版:ELSZneo?SE)品牌:日本大冢電子(OTSUKA,國內主體:大冢電子 (蘇州)),Zeta 電位?粒徑?分子量一體化旗艦分析儀

關鍵特點

  1. 超寬樣品濃度:可測原液最高約40%,大量樣品無需稀釋;粒徑低 0.00001%、Zeta 低 0.001%

  2. 多角度散射(前 / 側 / 后三角度):提升多分散樣品粒度分布分辨能力,可分開重疊峰ヤマト科學

  3. 平板樣品池:高鹽條件(154?mM NaCl)也可測固體表面 Zeta 電位,適合薄膜、涂層材料

  4. 溫控 0?90℃,帶溫度梯度掃描:蛋白質變性、相變、熔融溫度分析

  5. 同一個流通池,不換樣品即可連續測粒徑 + Zeta 電位;微量測量低 3?μL

  6. 實測電滲流補償,Zeta 電位精度高;APD 高靈敏度探測器,半導體激光光源

  7. 主機:330×565×245?mm,重量 22?kg,220V 供電大塚電子(...

ELSZneo vs ELSZneo?SE 區別

  • ELSZneo:完整高配,帶多角度粒度、分子量、微流變、凝膠分析、粒子濃度全部功能

  • ELSZneo?SE:基礎版,僅保留粒徑 + Zeta 電位;分子量、多角度、微流變等作為選件按需選配,成本更低

典型應用

納米粉體、乳液、脂質體、蛋白、膠體、涂料、電池漿料、凝膠材料、高分子溶液、表面涂層 Zeta 評價。



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